管理番号 | 中古 :33746851789 | メーカー | 研究用高純度シリコンウェハー | 発売日 | 2025/02/16 18:32 | 型番 | Z5186976244 | ||
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<商品詳細参考ページ>外部リンク:https://axel.as-1.co.jp/asone/d/2-960-58/事業者向け商品ですOF長さ(mm)×ウェハー厚(μm):42.5±2.5×625±25製造方法:CZ法面方位:100OF位置:110抵抗値:0.1〜100Ω・cmパーティクル:0.3μm、10個以下サイズ(インチ)×伝導型:5×N型入数:1箱(25枚)特注対応品について(1)方位(切断角度)、OF位置角度公差、厚み公差を、より小さく高精度に加工することができ、エッチングでの正確な溝形成が可能となります。(2)多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざくり加工品、穴あけ加工品、酸化膜付きウェハー)。(3)ご希望の比抵抗率、ウェハー厚みに合わせた対応が可能です。(4)8インチ、12インチに関しては随時お問い合わせください(最低単位25枚)。※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。